产品列表PRODUCTS LIST

首页 > 新闻中心 > 想知道影像二次元测量仪的测量原理就看看这些吧

想知道影像二次元测量仪的测量原理就看看这些吧

点击次数:94 发布时间:2020-06-15
  影像二次元测量仪本身的硬件CCD以及光栅尺,通过USB及RS232数据线传输到电脑的数据采集卡中,将光信号转化为电信号,之后由影像测量仪软件在电脑显示器上成像,由操作员用鼠标在电脑上进行快速的测量。
 
  以上的工序基本在几万分之一秒完成,所以可以把他看作是实时检测设备,或者狭隘的称为动态测量设备。如果电脑配置附合要求,测量软件绝对不会产生图像滞后现象。根据测量工件大小的不同,也可以选择不同行程的工作台面。
 
  光源亮度可以在各种光线条件下选择最合适的光源亮度。光源类型(分为底光和表面光)可根据测量工件来进行调节控制以达到好的效果。
 
  下面让我们了解一下影像二次元测量仪的测量原则
 
  1、基本测量原则
 
  在实际测量中,对于同一被测量往往可以采用多种测量方法。为减小测量不确定度,应尽可能遵守以下基本测量原则:
 
  (1)阿贝原则:要求在测量过程中被测长度与基准长度应安置在同一直线上的原则。若被测长度与基准长度并排放置,在测量比较过程中由于制造误差的 存在,移动方向的偏移,两长度之间出现夹角而产生较大的误差。误差的大小除与两长度之间夹角大小有关外,还与其之间距离大小有关,距离越大,误差也越大。
 
  (2)基准统一原则:测量基准要与加工基准和使用基准统一。即工序测量应以工艺基准作为测量基准,终检测量应以设计基准作为测量基准。
 
  2、最短链原则
 
  在间接测量中,与被测量具有函数关系的其它量与被测量形成测量链。形成测量链的环节越多,被测量的不确定度越大。
 
  因此,应尽可能减少测量链的环节数,以保证测量精度,称之为最短链原则。 当然,按此原则不采用间接测量,而采用直接测量。所以,只有在不可能采用直接测量,或直接测量的精度不能保证时,才采用间接测量。 应该以最少数目的量块组成所需尺寸的量块组,就是最短链原则的一种实际应用。
 
  最小变形原则:测量器具与被测零件都会因实际温度偏离标准温度和受力(重力和测量力)而产生变形,形成测量误差。 在测量过程中,控制测量温度及其变动、保证测量器具与被测零件有足够的等温时间、选用与被测零件线胀系数相近的测量器具、选用适当的测量力并保持其稳定、选择适当的支承点等,都是实现最小变形原则的有效措施。
联系人
在线客服
用手机扫一扫
用心服务 成就你我